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JEDEC JESD92-2003  超薄绝缘体口有时间决定的介质击穿的辨别规程

标准编号:JEDEC JESD92-2003
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中文标准名称:超薄绝缘体口有时间决定的介质击穿的辨别规程
英文标准名称:procedure for characterizing time- dependent dielectric breakdown of ultra-thin gate dielectrics
语言:英文版,中文版
发布日期:2003-08-01
实施日期:2003-08-01
标准类别:电子元件工业联合会JEDEC
中国标准文献分类法(中标分类CCS):电子元器件与信息技术 >> 电真空器件 >> 电真空器件综合
中国标准文献分类法(中标分类CCS):电子学 >> 电子管
标准页数:32
标准简介:This document defines a constant voltage stress test procedure for characterizing time-dependent dielectric breakdown or “wear-out” of thin gate dielectrics. The test is designed to obtain voltage and temperature acceleration parameters required to estimate oxide life at use conditions. Unlike highly accelerated ramp tests that are designed to be extremely fast and performed at the waferlevel, the constant voltage test procedure may be conducted over long periods of time. It may be applied at the wafer-level or with packaged devices.
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添加时间:2012/11/23
 
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