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14/30266479 DC  货币等值17109 - 表面化学分析 - 深度剖析 - 一种用于溅射速率测定X射线光电子能谱,俄歇电子能谱和Secondaryion质谱溅射深度剖析使用单和多层薄膜

标准编号:14/30266479 DC
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中文标准名称:货币等值17109 - 表面化学分析 - 深度剖析 - 一种用于溅射速率测定X射线光电子能谱,俄歇电子能谱和Secondaryion质谱溅射深度剖析使用单和多层薄膜
英文标准名称:Bs Iso 17109 - Surface Chemical Analysis - Depth Profiling - A Method For Sputter Rate Determination In X-Ray Photoelectron Spectroscopy, Auger Electron Spectroscopy And Secondaryion Mass Spectrometry Sputter Depth Profiling Using Single And Multi-Layer Thin Films
标准状态:现行有效
采用国际标准编号:ISO/DIS 17109-2014 Identical
语言:英文版, 中文版
标准类别:其他国内外OTHERSS
中国标准文献分类法(中标分类CCS):
中国标准文献分类法(中标分类CCS):化工技术 >> 分析化学 >> 化学分析
标准页数:22
标准简介:BS ISO 17109.
文件格式:纸质版或者PDF电子版(用Acrobat Reader打开)或Word版本doc格式
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文件大小:688 KB
添加时间:2015/01/28
 
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